Société Rudolph Technologies, Inc. NYSE

Onto Innovation Inc. est spécialisée dans la conception, le développement, la fabrication et l'assistance technique d'outils de métrologie et d'inspection destinés à l'industrie des semi-conducteurs. Les produits de la société comprennent des systèmes de métrologie automatisés, des systèmes de métrologie intégrés, des solutions d’inspection et de caractérisation de toutes les surfaces des plaquettes de silicium, l’inspection des défauts macroscopiques, la classification automatisée des défauts et l’analyse des motifs, l’analyse du rendement, la métrologie des films opaques, entre autres. Ses produits sont utilisés par les fabricants de plaquettes de silicium, les fabricants de circuits intégrés à semi-conducteurs et les fabricants de boîtiers avancés opérant sur le marché des semi-conducteurs. Ses produits sont également utilisés pour le contrôle des processus sur plusieurs autres marchés de fabrication de dispositifs spécialisés, notamment les diodes électroluminescentes, les lasers à cavité verticale à émission par la surface, les systèmes micro-électromécaniques, les capteurs d'image CMOS, les dispositifs de puissance à semi-conducteurs en silicium et composés, les dispositifs analogiques, les filtres RF, et autres. Elle propose également trois gammes de produits de pointe, à savoir FAaST, CnCV et MBIR.