Aehr Test Systems a annoncé avoir reçu une première commande d'un client pour un système de test et de déverminage au niveau de la plaquette FOX-NP, plusieurs contacteurs WaferPak ? et d'un aligneur FOX WaferPak pour l'ingénierie, la qualification, le test et le déverminage des plaquettes de production en petites séries de leurs dispositifs en carbure de silicium.

Le client est une entreprise mondiale de semi-conducteurs qui réalise plusieurs milliards de dollars par an et qui est implantée en Europe, en Asie et en Amérique. Elle dessert divers secteurs, notamment l'automobile, l'industrie, la téléphonie mobile et les applications grand public. Le système FOX-NP, y compris les aligneurs FOX WaferPak et les premiers WaferPak, devrait être livré au cours des prochains mois. Le système FOX-NP est configuré avec les nouvelles options BVCM (Bipolar Voltage Channel Module) et VHVCM (Very High Voltage Channel Module) qui permettent de nouvelles capacités avancées de test et de déverminage pour les semi-conducteurs de puissance en carbure de silicium utilisant les contacteurs de plaquettes exclusifs d'Aehr.